製品案内
技術情報
- バーンイン戦略の再評価、James Forster, PhD, WELLS-CTI, Advanced Packaging, March 2009
- 複雑なバーンインテストシステムの設計時間を劇的に短縮するサーマルシミュレーション、Trevor Moody, Mechanical and Thermal Engineer, MEPTEC Report, 2008
最新情報
- BiTS 2008: ソケット耐久性に影響する接触抵抗下落の原因の考察, Nick Langston, Jr.
- BiTS 2007:エラストマーのインターコネクト
- BiTS 2007:信号の整合性
- BiTS 2007:Novel 分離用インターポーザを使用したソケット & 基板のインダクタンスの最小化
- BiTS 2006:サーマル・コントロール・ユニット (Thermal Control Unit):分析モデルと実験検証の開発による電圧入力の最適化
- Integrating Thermal Management and Burn-in Operations:
サーマルマネジメントとバーンインの統合：デバイス間の放熱とパワー差の解消
(as featured in October 2007 issue of Advanced Packaging) by Chris Lopez, Manager, Thermal Solutions
